干式變壓器局部放電試驗設(shè)備及試驗方法
局部放電測試系統(tǒng)主要由以下幾部分組成:
試驗電源
要求:必須是中頻(通常100-400Hz)或工頻(50/60Hz)的無局放電源,以提供足夠高的試驗電壓而不被背景干擾淹沒。
類型:
中頻發(fā)電機組(MFC):最傳統(tǒng)、最可靠的方式,由電動機驅(qū)動中頻發(fā)電機產(chǎn)生正弦波。容量大、波形好,但體積大、成本高。
電子式變頻電源(AC/DC/AC逆變器):現(xiàn)代主流,通過電力電子技術(shù)將工頻轉(zhuǎn)換為中頻。體積小、重量輕、頻率可調(diào),但對設(shè)計制造要求高,需確保其自身無局放。
串聯(lián)諧振系統(tǒng):對于大容量變壓器,可配合電抗器使用,降低對電源容量的要求。
耦合電容器:并聯(lián)在試品兩端,為局放脈沖提供低阻抗通道,將其耦合到檢測阻抗上。其自身的局放水平必須遠低于變壓器要求值。
檢測阻抗(檢測單元):連接在耦合電容器的接地端,是一個無感電阻或RLC電路,用于拾取局放脈沖信號并將其轉(zhuǎn)換為電壓信號。
局放測量儀(PD Analyzer)
核心設(shè)備,接收來自檢測阻抗的信號。
關(guān)鍵功能:
濾波與放大:從強烈的背景噪聲中提取微弱的局放信號。
顯示與測量:顯示局放脈沖的波形、幅值(pC)、相位(φ)以及放電次數(shù)(N)。
圖譜分析:現(xiàn)代數(shù)字式局放儀能顯示φ-q-n圖譜(相位-放電量-放電次數(shù)),幫助判斷放電類型(如內(nèi)部放電、表面放電、電暈放電)。
必須定期校準。
校準器:在試驗前和試驗后,用于向變壓器端子注入已知電荷量的標準脈沖,以校準整個測量系統(tǒng)的視在放電量(pC)。這是確保測量結(jié)果準確可比的關(guān)鍵步驟。
屏蔽與接地系統(tǒng):
屏蔽室/屏蔽帳篷:為排除空間電磁干擾,整個試驗回路(變壓器、電源、測量線)應(yīng)在金屬屏蔽室內(nèi)進行。
單點接地:所有設(shè)備必須在一點接地,形成等電位,防止地環(huán)流引入干擾。
試驗方法(步驟與要點)
試驗通常在變壓器制造完成、例行試驗時進行,也用于安裝后的交接試驗或故障診斷。
基本試驗電路:通常采用并聯(lián)接法,耦合電容器與試品并聯(lián),檢測阻抗串接在耦合電容接地端。
主要試驗步驟:
準備工作:
變壓器本體清潔、干燥,環(huán)境濕度符合要求(通常<85%)。
布置好所有設(shè)備,連接線路應(yīng)短而牢固,使用同軸屏蔽電纜。
搭建好屏蔽環(huán)境,并確??煽康膯吸c接地。
試驗區(qū)域設(shè)置安全圍欄和警示標志。
系統(tǒng)校準:
將校準器并聯(lián)在變壓器高壓端子與地之間。
向系統(tǒng)注入已知電荷量(如100pC)的標準方波脈沖。
調(diào)節(jié)局放儀的刻度系數(shù),使屏幕顯示讀數(shù)與注入量一致。記錄該刻度系數(shù)。
背景噪聲測量:
在不施加試驗電壓或施加很低電壓(遠低于起始電壓)時,測量并記錄背景噪聲水平。通常要求背景噪聲<5 pC或低于允許局放量的50%。
升壓與預(yù)加壓:
以平穩(wěn)的速度將電壓升至1.8倍額定相電壓(Um) 或技術(shù)協(xié)議規(guī)定的預(yù)加電壓值。
保持此電壓 60秒。此過程旨在“活化”可能存在的絕緣缺陷,使其在后面的測量電壓下更容易被發(fā)現(xiàn)。
降壓至測量電壓并保持:
將電壓降至 1.5倍額定相電壓(Um) 或技術(shù)協(xié)議規(guī)定的局放測量電壓(通常為 1.3-1.7倍額定電壓)。
保持此電壓至少30秒,同時進行局放測量。這是核心測量階段。
關(guān)鍵記錄:在此電壓下,讀取并記錄穩(wěn)定的最大視在放電量(pC)。
降壓與復(fù)校:
將電壓降至零,斷開電源。
再次進行系統(tǒng)校準,驗證測量回路的刻度系數(shù)未發(fā)生變化(變化應(yīng)在±10%以內(nèi)),否則本次試驗無效。
數(shù)據(jù)記錄與圖譜分析:
記錄試驗電壓、背景噪聲、測量電壓下的局放量。
分析φ-q-n圖譜,判斷放電類型和可能位置。
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